本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试控制电路、测试用具及测试系统。测试控制电路应用于测试用具，测试用具与待测设备的待测接口连接，测试控制电路的第一端口与第二十五端口短接，测试控制电路的第二端口与第二十三端口短接，测试控制电路的第三端口与第四端口短接，测试控制电路的第六端口与第十九端口短接，测试控制电路的第八端口与测试控制电路的第二十一端口短接，其中，测试控制电路的二十五个端口与待测接口的二十五个端口配对连接，待测设备用于测试待测接口的功能。本发明通过测试用具直接与待测接口连接的方式检测待测设备的功能，从而节省了测试成本，提高了测试效率。