用于处理器的测试控制电路以及测试控制方法
公开
摘要
本公开提供一种用于处理器的测试控制电路以及测试控制方法。处理器包括并联连接在信号输入端和信号输出端之间的多个测试接入端口，信号输入端与测试信号端直接地连接以接收测试信号并控制多个测试接入端口是否开启输入测试信号，测试控制电路包括：逻辑选择电路与信号输入端、信号输出端以及测试信号端连接；端口选择电路与逻辑选择电路连接，逻辑选择电路基于从测试信号端接收的测试信号来向端口选择电路输出第一选择信号，端口选择电路响应于第一选择信号进行端口选择并输出第二选择信号，信号输入端和信号输出端基于第二选择信号来控制多个测试接入端口中的一个或多个开启输入测试信号并开启输出测试数据。
基本信息
专利标题 ：
用于处理器的测试控制电路以及测试控制方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609510A
申请号 ：
CN202210279334.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
上海壁仞智能科技有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区陈行公路2388号16幢13层1302室
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
彭久云
优先权 ：
CN202210279334.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G06F11/267 G06F11/263 G06F11/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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