存储器系统的掉电测试控制电路、测试系统及方法

授权

摘要

本申请提供了一种存储器系统的掉电测试控制电路。该存储器系统的掉电测试控制电路包括：控制模块，复位模块和放电模块，其中，控制模块与电源端连接，并被配置为基于接收的上电指令使电源端与存储器系统接通，或者基于接收的放电指令使放电模块与存储器系统接通；复位模块被配置为根据来自存储器系统的控制信号生成上电指令或者放电指令；以及放电模块被配置为当放电模块与存储器系统接通时，使存储器系统放电。该存储器系统的掉电测试控制电路能够精准地控制存储器系统的放电时间节点，并且能够使存储器系统自动上电，以实现存储器系统在掉电测试中自动循环工作。

基本信息

专利标题：

存储器系统的掉电测试控制电路、测试系统及方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113205852A

申请号：

CN202110682709.4

公开（公告）日：

2021-08-03

申请日：

2021-06-17

授权号：

CN113205852B

授权日：

2022-05-24

发明人：

武恒文朱捷

申请人：

长江存储科技有限责任公司

申请人地址：

湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

代理机构：

北京海智友知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

吴京顺

优先权：

CN202110682709.4

主分类号：

G11C29/08

IPC分类号：

G11C29/08 G11C5/14