高频等离子体固体进样装置
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
本高频等离子体固体进样装置属于分析化学中发射光谱化学分析领域。为达到快速、灵敏分析目的，设计该固体进样装置。该装置由机壳(1)，偏心调节杠(2)，振动铁芯线圈(3)，装样铁皿(4)，送样板(5)，雾化室(6)，双高频火花电极(7)，载气输出管(8)，载气输入管(9)，双高频电源接线柱(10)等部件组成。特征是具有密封性能良好的雾化室和双高频火花电极，雾化室下装有振动铁芯线圈，该装置结构简单，进样率达95％以上，重现好，样品无残留，粒度范围宽。
基本信息
专利标题 ：
高频等离子体固体进样装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87206025.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-03-31
授权号 ：
CN87206025U
授权日 ：
1988-01-20
发明人 ：
赵兴焱车跃杨德才
申请人 ：
中国有色金属工业总公司西南地质勘探公司地质研究所
申请人地址 ：
云南省昆明市昙华寺
代理机构 ：
云南省专利事务所
代理人 ：
梁克文
优先权 ：
CN87206025.X
主分类号 ：
G01N1/04
IPC分类号 ：
G01N1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/04
固体的，如采用切割
法律状态
1991-08-21 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1988-12-21 ：
授权
1988-01-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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