一种X射线衍射仪用两轴薄膜样品台
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摘要

本实用新型公开了一种X射线衍射仪用两轴薄膜样品台,包括转接座、电动升降滑台、电动摆动滑台和垫块,电动摆动滑台通过转接座与X射线衍射仪连接,电动摆动滑台的上方连接电动升降滑台,电动摆动滑台能够带动电动升降滑台实现绕x轴向的摆动,电动升降滑台的上方可拆卸连接有垫块,垫块上方用于放置薄膜样品。本实用新型通过电动升降滑台和垫块可实现不同厚度的薄膜样品的一个高度调节,使薄膜样品的上表面能够位于X射线衍射仪的中心点上,进而满足X射线衍射仪测试不同厚度薄膜样品的需求,电动摆动滑台可用于调整薄膜样品的倾斜情况,使薄膜样品表面处于高精度的水平位置,进而使一般衍射仪具备薄膜样品的调平对准与测试功能。

基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射仪用两轴薄膜样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123347479.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
CN216646317U
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
张吉东孟圣斐宋新月
申请人 :
苏州锂影科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴江区东太湖生态旅游度假区(太湖新城)简村路100号苏州湾智慧信息产业园17层1701室06号工位(集群登记)
代理机构 :
北京高沃律师事务所
代理人 :
石佳
优先权 :
CN202123347479.0
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20  G01N23/20008  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2022-05-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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