一种X射线衍射仪用风车型多位样品架
授权
摘要

本实用新型为一种X射线衍射仪用风车型多位样品架,涉及X射线衍射测试技术领域,解决了现有技术中的大规模X射线衍射测试多位样品架受到已有衍射仪的构型限制样品位数少的问题。技术特征包括:单个样品架以及用以装载单个样品架的风车型多位样品架;单个样品架至少包括:单个粉末样品架,单个粉末样品架用于装载粉末、胶体或液体样品;以及单个薄膜样品架,单个薄膜样品架用于装载薄膜、片状或块状样品。本装置样品架位数多,兼具对粉末和薄膜样品的装载能力,操作简单,可以实现多个样品的快速批量更换,并实现测试时的自动样品位置切换。

基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射仪用风车型多位样品架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022429442.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-28
授权号 :
CN213398273U
授权日 :
2021-06-08
发明人 :
宋新月张吉东
申请人 :
中国科学院长春应用化学研究所
申请人地址 :
吉林省长春市朝阳区人民大街5625号
代理机构 :
长春众邦菁华知识产权代理有限公司
代理人 :
王丹阳
优先权 :
CN202022429442.1
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-06-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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