一种集成电路的测试板
授权
摘要

本实用新型提供一种集成电路的测试板,属于测试板技术领域,该集成电路的测试板包括储存箱,储存箱的一端开始有多个抽屉槽,多个抽屉槽内均滑动连接有放置板,储存箱的一侧设有电机,集成电路测试板主体,集成电路测试板主体设于其中一个放置板的上端,在需要将集成电路测试板主体从储存箱内拿出时,可以通过启动电机,这时其便会将动力传递至推送机构,这时推送机构便会将多个放置板向外推送,这时人们便可以将放置板上端的集成电路测试板主体拿取,无需再由人手动摸索了,使得集成电路测试板主体在被拿取时,其上端的电路不会被破坏,进而提高了集成电路测试板主体的使用效率和使用寿命。

基本信息
专利标题 :
一种集成电路的测试板
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202121913013.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-08-16
授权号 :
CN216411476U
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
陈德拥
申请人 :
深圳德芯微电技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区石岩街道上屋社区园岭路志泫翰工业园厂房K栋五层
代理机构 :
深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司
代理人 :
陆婉
优先权 :
CN202121913013.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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