本实用新型提供一种测试半导体母头连接器的测试探针，涉及挂架技术领域。本实用新型包括测试探针管，上述测试探针管的一端连接有用于信号传输的测试导柱，上述测试导柱与上述测试探针管伸缩配合，上述测试探针管的另一端连接有插入上述半导体母头连接器内的测试探针头，上述测试探针头呈扁平状，上述测试探针头靠近上述测试探针管端的环侧与上述半导体母头连接器的内侧相接，上述测试探针头的远离上述测试探针管的侧边呈弧形。本实用新型解决了目前所使用的半导体连接器测试探针找点精度差的问题。