测试电路及芯片电路测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及芯片电路测试领域，具体涉及一种测试电路，用于对芯片电路进行测试，其包括：按键单元、第一单片机、第二单片机、第三单片机和显示单元，按键单元用于产生按键动作；第一单片机与按键单元连接，第一单片机用于响应按键单元的按键动作以选择测试项目；第二单片机用于与芯片电路连接，且与第一单片机连接，第二单片机根据测试项目控制芯片电路进行相应的功能测试，并检测功能测试结果，其中，当功能测试结果异常时生成故障信息；第三单片机与第二单片机连接，用于接收故障信息；显示单元与第三单片机连接，用于显示故障信息。本测试电路可以完成芯片电路的功能测试，且简单易用，成本低，有效的降低了对芯片电路进行功能测试的成本。
基本信息
专利标题 ：
测试电路及芯片电路测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022137412.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-25
授权号 ：
CN213457239U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
杨九如王春来李诚建
申请人 ：
深圳市麦积电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市坪山新区兰竹东路福兴达工业厂区4号厂房4层西侧
代理机构 ：
深圳市道臻知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈琳
优先权 ：
CN202022137412.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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