集成通信功能的电源芯片测试电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成通信功能的电源芯片测试电路，该电路包括逻辑测试仪、电源芯片外围电路及用于连接待测试电源芯片的芯片座，所述逻辑测试仪与电源芯片外围电路连接，且逻辑测试仪与待测试电源芯片连接并通信，所述待测试电源芯片与电源芯片外围电路连接。本实用新型的电源芯片测试电路将电源芯片外围电路做到比较靠近待测试电源芯片，使电源芯片的外围环路尽量减小，同时通过逻辑测试仪对电源芯片外围电路的输出电压及对电源芯片的通信功能进行测试，由于逻辑测试仪的IO数量较多，可以进行多工位同时测试。本实用新型具有测试效率高、稳定性好的特点。
基本信息
专利标题 ：
集成通信功能的电源芯片测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921458186.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-04
授权号 ：
CN210690753U
授权日 ：
2020-06-05
发明人 ：
李英才
申请人 ：
深圳市华力宇电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402
代理机构 ：
深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李捷
优先权 ：
CN201921458186.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-06-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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