一种用于检测半导体的设备及关键结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于检测半导体的设备及关键结构，所述设备包括检测台、运输带、外观检测仪、翻转装置、转向辊、皮带、转辊、翻转轮、支架、刷子、电气检测仪、电磁铁、衔铁、复位弹簧、连杆、探针卡、缓冲弹簧、压杆、导引板、转向板、电机一和收集框；所述关键结构包括运输机构、检测机构和收集机构。本实用新型结构简单，检测迅速，通过翻转装置的设置能够对半导体进行翻转，并能对半导体进行双面的检查，避免半导体检测不全面的问题，提高固检测的全面性；通过电磁铁和探针卡的设置，对半导体进行电气测试，提高检测的便利性，后侧的收集框可方便的进行分类，方便下一步操作。
基本信息
专利标题 ：
一种用于检测半导体的设备及关键结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020673887.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-28
授权号 ：
CN212229092U
授权日 ：
2020-12-25
发明人 ：
于海超赵梁玉周明刘明星
申请人 ：
强一半导体（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区东长路18号39幢2楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020673887.1
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/067 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-12-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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