一种半导体晶圆检测用高效抗干扰的检测仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种半导体晶圆检测用高效抗干扰的检测仪,包括底板,所述底板顶部的中端固定连接有限位柱,所述限位柱顶部的中端固定连接有气缸,所述气缸的输出端固定连接有凸起,所述限位柱顶部的两侧通过连接板固定连接有放置板。本实用新型通过过滤箱的顶部固定安装有风机,风机的输出端固定连接有波纹管,波纹管的输出端固定连接有增压泵,增压泵的输出端固定连接有气枪,起到了高压吹气的效果,从而可有效的将颗粒以及灰尘等杂物吹离,进而提高了抗灰尘以及颗粒干扰的目的,解决了现有的检测仪存在不具备高效抗颗粒干扰的功能,从而容易因为颗粒导致晶片倾斜,进而造成检测数据不准确,还容易导致晶片损坏的问题。

基本信息
专利标题 :
一种半导体晶圆检测用高效抗干扰的检测仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122315717.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-24
授权号 :
CN216209258U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
吴镇
申请人 :
吴镇
申请人地址 :
广东省清远市连州市良江路3号聚源大厦9层917室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122315717.3
主分类号 :
G01R1/02
IPC分类号 :
G01R1/02  G01R31/26  B08B5/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332