一种用于GIS设备X射线探伤的发射机支撑装置
授权
摘要
本申请涉及变电站GIS设备现场X射线无伤检测设备领域,公开了一种用于GIS设备X射线探伤的发射机支撑装置,包括发射机及用于固定发射机的安装框架,还包括与安装框架底部固定连接的旋转机构,发射机绕旋转机构的轴线转动。旋转机构底部转动连接有用于调整发射机高度的升降机构,升降机构包括与旋转机构连接的顶端升降杆,以及与底座机构连接的底端升降杆。用于调整发射机相对于水平面的倾斜角度的俯仰机构,俯仰机构连接升降机构和安装框架。以及用于使升降机构、俯仰机构、旋转机构、安装框架和发射机整体相对于地面移动或固定的底座机构。本实用新型可方便快捷的调节高度且在空间中进行360度的角度调节,从而实现对GIS设备的全方位探伤检测。
基本信息
专利标题 :
一种用于GIS设备X射线探伤的发射机支撑装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020137975.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-19
授权号 :
CN211528254U
授权日 :
2020-09-18
发明人 :
曾德华周维超王权王官禄何鑫
申请人 :
四川赛康智能科技股份有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区府城大道西段399号10栋13楼5号
代理机构 :
成都中络智合知识产权代理有限公司
代理人 :
嬴雨径
优先权 :
CN202020137975.X
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2020-09-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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