一种用于GIS设备X射线探伤的探测器支撑装置
授权
摘要
本实用新型涉及变电站GIS设备现场X射线无伤检测设备领域，公开了一种用于GIS设备X射线探伤的探测器支撑装置，具体包括探测器，还包括调节所述探测器的俯仰角度的第一转动机构；使所述探测器和第一转动机构绕竖直轴线转动的第二转动机构；调节所述探测器、第一转动机构和第二转动机构高度的升降机构；以及支撑所述升降机构的支撑脚组件。本实用新型使用第一转动机构和第二转动机构实现了探测器角度上的全方位调节，再配合升降机构调节高度，使探测器调节范围进一步增大。
基本信息
专利标题 ：
一种用于GIS设备X射线探伤的探测器支撑装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020125913.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-19
授权号 ：
CN211627416U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
曾德华周维超付贵王权王官禄何鑫
申请人 ：
四川赛康智能科技股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区府城大道西段399号10栋13楼5号
代理机构 ：
成都中络智合知识产权代理有限公司
代理人 ：
嬴雨径
优先权 ：
CN202020125913.7
主分类号 ：
G01N23/18
IPC分类号 ：
G01N23/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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