本实用新型公开了一种用于芯片测试的高效率筛分机台，其包括底座；在所述的底座上方两侧设有支撑架；所述的支撑架内侧设有显示屏；所述的底座中部设有旋转圆台；所述的旋转圆台顶部连接有C字型连接杆；所述的连接杆两端均连接有芯片传送圆台；所述的芯片传送圆台顶部设有测试箱体；所述的测试箱体内部被均匀分割成两个空间，每个空间均设有一个测试器；所述的支撑架上分别设于高低温箱体和干燥塔；本实用新型能够同时进行高低温测试和上下料工作，出现测试异常情况时，可快速筛分异常件，提高工作效率。