一种存储器感应电压测试电路及测试方法

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摘要

本申请提供一种存储器感应电压测试电路及测试方法，所述测试电路包括电压传输模块，利用页缓冲器中的SO节点的电压即为锁存器的第二输入端的翻转电压，再基于锁存器的对称性，等价到锁存器第一输入端rst_sa_latch节点上的电压，最后利用电压传输模块，在测试时，将电压传输模块的第一输入端电压传输至锁存器的第一输入端，从而测试得到电压传输模块的第一输入端电压即可得到翻转电压大小。即利用电压传输模块的第一输入端电压传输到锁存器的第一输入端上，进而测试翻转电压，实现SO节点的实际翻转电压大小的测试。

基本信息

专利标题：

一种存储器感应电压测试电路及测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111354414A

申请号：

CN202010235552.6

公开（公告）日：

2020-06-30

申请日：

2020-03-27

授权号：

CN111354414B

授权日：

2022-05-03

发明人：

王颀王中波刘飞杜智超霍宗亮

申请人：

中国科学院微电子研究所

申请人地址：

北京市朝阳区北土城西路3号

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司

代理人：

李婷婷

优先权：

CN202010235552.6

主分类号：

G11C29/50

IPC分类号：

G11C29/50