一种芯片多通道高压绝缘测试机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片多通道高压绝缘测试机构，包括对接平台和测试平台，所述对接平台一侧的底部与测试平台底部连接，所述对接平台顶部一端固定连接有Y轴气缸，所述对接平台顶部另一端固定连接有上部压紧头和Z轴气缸，所述测试平台顶部设有上密封盖，所述测试平台一端设有后部抽尘装置，所述测试平台内腔底部设有连接线压块，所述测试平台顶部设有测试平台治具和压紧头治具，所述测试平台治具一端固定连接有测试接触片。本实用新型，通过设计测试平台，良好的上下治具设计使其精密贴合芯片，配合特种绝缘塑料有效隔开测试接触片和负极，实现5千伏耐压绝缘测试不产生电弧，而且能够一直稳定生产，不烧伤测试治具，不损坏芯片。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片多通道高压绝缘测试机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922406927.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-28
授权号 ：
CN211698072U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
周建高周善威
申请人 ：
英诺创新科技（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道上村社区下南第三工业区第七栋鑫安文化大厦7楼8708室
代理机构 ：
深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈映辉
优先权 ：
CN201922406927.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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