一种自动换样装置及中子反射实验装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种自动换样装置及中子反射实验装置,该自动换样装置包括支撑架、样品支持机构、驱动机构和定位反馈机构。样品支持机构可转动地连接在支撑架上,样品支持机构沿其周向方向设置有多个样品,驱动机构设于样品支持机构和支撑架之间,驱动机构能够驱动样品支持机构转动,定位反馈机构设于样品支持机构上,定位反馈机构能够读取样品支撑机构的转动行程。驱动机构和定位反馈机构能互相配合使样品依次完成中子反射实验,在实验开始前将所有样品安装于样品支持机构上,自动换样装置能完成所有样品的中子反射实验。节约了宝贵的束流时间,减少了人员进入辐射区域所停留的时间,降低了实验辐射对人员的损伤,提高了实验效率。
基本信息
专利标题 :
一种自动换样装置及中子反射实验装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921766408.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-21
授权号 :
CN210982270U
授权日 :
2020-07-10
发明人 :
肖松文朱涛李树发孙远
申请人 :
散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所;中国科学院物理研究所
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区总部二路2号光大数字家庭(推广名:光大we谷)一区1栋1号楼1316号房
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
胡彬
优先权 :
CN201921766408.4
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20 G01N23/20025 G01N23/20016
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2020-07-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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