一种定位装置及低温中子反射实验装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种定位装置及低温中子反射实验装置,该定位装置包括定位件、第一锁紧件、第二锁紧件、转动件和测距件。第一锁紧件与定位件相连,第二锁紧件可转动地连接在定位件上。转动件能够相对定位件转动,且第一锁紧件和第二锁紧件分别止抵于转动件的相对两侧。测距件设在定位件上,测距件被配置为读取转动件和定位件之间的距离变化值。通过测距件读取转动件位于初始位置时定位件与转动件之间的初始距离数据,在需要使转动件回位至初始位置时,将转动件转动至测距件读数与初始数据相同的位置,并通过第一锁紧件和第二锁紧件将转动件锁紧,即可完成转动件的精确定位锁紧功能。
基本信息
专利标题 :
一种定位装置及低温中子反射实验装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921766371.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-21
授权号 :
CN210982272U
授权日 :
2020-07-10
发明人 :
肖松文朱涛李树发孙远
申请人 :
散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所;中国科学院物理研究所
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区总部二路2号光大数字家庭(推广名:光大we谷)一区1栋1号楼1316号房
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
胡彬
优先权 :
CN201921766371.5
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2020-07-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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