判断集成电路处理速度的测试系统与测试方法

专利权的终止

摘要

本发明提供一种判断集成电路处理速度的测试系统与测试方法。该测试系统包括一时脉输出装置与一判断单元；所述时脉输出装置包括一正反器和一延迟模块。该测试方法利用集成电路所需延迟时间的长短来反映集成电路的处理速度。通过本发明，利用判断信号被致能的同时取得与集成电路处理速度具有正相关性的延迟时间，通过该延迟时间来反映出集成电路的处理速度，从而达到测试出集成电路处理速度的效果，并达到将具有不同处理速度的集成电路分类的效果。

基本信息

专利标题：

判断集成电路处理速度的测试系统与测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1937196A

申请号：

CN200510105384.4

公开（公告）日：

2007-03-28

申请日：

2005-09-23

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

叶映志方重尹

申请人：

矽统科技股份有限公司

申请人地址：

台湾省新竹市

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司

代理人：

陶海萍

优先权：

CN200510105384.4

主分类号：

H01L21/66

IPC分类号：

H01L21/66 G01R31/00 G01R31/307 G01R31/26