检测存在于矿石试样中的金刚石
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
为了能在勘探时准确而简单地检测出金刚石，可将岩面试样破碎成粉末颗粒，并用处理透射过颗粒薄层的Ｘ射线的图象的方式，来自动地识别出粉末颗粒中是否含有金刚石颗粒（３０）。可用将这一图象与透射过颗粒薄层的另一幅可见光的图象进行比较的方式来处理图象。
基本信息
专利标题 ：
检测存在于矿石试样中的金刚石
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1083214A
申请号 ：
CN93108276.5
公开（公告）日 ：
1994-03-02
申请日 ：
1993-06-03
授权号 ：
CN1041861C
授权日 ：
1999-01-27
发明人 ：
Ｍ·Ｌ·龙尼Ｊ·Ｇ·Ｃ·史密夫Ｍ·Ｐ·史密夫Ｍ·库帕
申请人 ：
森桑企业
申请人地址 ：
列支敦士登瓦杜兹
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
程天正
优先权 ：
CN93108276.5
主分类号 ：
G01N23/083
IPC分类号 ：
G01N23/083 G01N21/59
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/05
利用中子
G01N23/083
辐射是X射线
法律状态
2008-07-30 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
1999-01-27 ：
授权
1995-09-13 ：
实质审查请求的生效
1994-03-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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