激光高精度测量大型工件内外径装置及方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及大型工件内外径测量方法及装置。其装置包括激光器；由激光测长器和导轨构成的测长单元；由单模光纤及其分别固定在其两端的光纤耦合器、带有光接收靶的光纤出射头构成的激光准直、自准直单元；由一块镀有半透半反膜的五角棱镜和与之固定在一起的光电接收器构成的测量头；该测量头由导轨支撑并与吸附在被测工件直径两侧的磁性定位块和固定在其上的光电接收器组成的瞄准、定位单元等部分。本发明对大型工件内外径及长度可实时测量，精度高，测量范围大。
基本信息
专利标题 ：
激光高精度测量大型工件内外径装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1079047A
申请号 ：
CN92103740.6
公开（公告）日 ：
1993-12-01
申请日 ：
1992-05-21
授权号 ：
CN1028383C
授权日 ：
1995-05-10
发明人 ：
冯其波梁晋文田芊
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
100084北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
廖元秋
优先权 ：
CN92103740.6
主分类号 ：
G01B11/08
IPC分类号 ：
G01B11/08 G01B11/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
1996-07-03 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-05-10 ：
授权
1993-12-01 ：
公开
1993-01-13 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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