补偿式多模光纤传光型微小位移测量系统
专利申请的视为撤回
摘要
本发明涉及一种多模光纤传光型微位移测量系统。它采用两个结构和参数一致的多光束干涉传感头构成一种补偿式测量方法，能补偿环境变化引起的信号漂移，从而放宽对材料的要求。本发明提出两种信号处理方法，两组透射峰的时间间隔测量法(1)，两组光电信号振辐测量法(2)。本发明可用于表面粗糙度测量，几何量计量中定位，以及开发应用于光通信中的波分多路复用等领域。
基本信息
专利标题 ：
补偿式多模光纤传光型微小位移测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1064932A
申请号 ：
CN91101676.7
公开（公告）日 ：
1992-09-30
申请日 ：
1991-03-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朱若谷
申请人 ：
中国计量学院
申请人地址 ：
310034浙江省杭州市教工三路
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN91101676.7
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1994-05-11 ：
专利申请的视为撤回
1992-09-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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