光学元件厚度的光学测量仪器
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
一种用于测量光学元件厚度的光学测量仪器，属于测量和测试装置。它由麦克尔逊干涉系统组成的，根据白光干涉条纹定位并将被测光学元件与标准块比较，对当前尚未解决的胶合透镜。可见光不透明的光学元件，未知材料的光学元件和无法预知厚度且误差不大于百分之五毫米的光学元件实现非接触测量，同时减少测试成本和测试时间。
基本信息
专利标题 ：
光学元件厚度的光学测量仪器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87200715.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-01-20
授权号 ：
CN87200715U
授权日 ：
1987-12-02
发明人 ：
徐昌杰
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市玉泉
代理机构 ：
浙江大学专利代理事务所
代理人 ：
林怀禹
优先权 ：
CN87200715.4
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02 G01B9/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1991-06-12 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1988-06-08 ：
授权
1987-12-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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