一种基于由粗到精检测策略的细微缺陷检测方法
公开
摘要
本发明公开了一种基于由粗到精检测策略的细微缺陷检测方法，包括：步骤1、采用CCD相机获取待测图像数据；步骤2、构造缺陷区域定位网络并对待测图像进行预处理，初步定位缺陷位置；步骤3、构造缺陷点检测网络，采用缺陷分割loss函数对缺陷点检测网络进行训练；步骤4、采用缺陷点检测网络对初步定位缺陷位置后的图像中存在的细微缺陷进行定量提取分割。本发明解决了人工细微缺陷检测漏检率高、准确度低，以及现有技术中无法对细微缺陷进行准确定位提取的问题，提高了细微缺陷检测的精准度和高效性。
基本信息
专利标题 ：
一种基于由粗到精检测策略的细微缺陷检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114581782A
申请号 ：
CN202210483136.7
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-05-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
汪俊单忠德贾书一李大伟吴宇祥
申请人 ：
南京航空航天大学
申请人地址 ：
江苏省南京市秦淮区御道街29号
代理机构 ：
南京钟山专利代理有限公司
代理人 ：
张力
优先权 ：
CN202210483136.7
主分类号 ：
G06V20/10
IPC分类号 ：
G06V20/10 G06V10/22 G06V10/26 G06V10/764 G06V10/774 G06V10/80 G06V10/82 G06K9/62 G06N3/04 G06N3/08
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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