一种Micro LED智能压接点亮检测装置及其检测方法
公开
摘要
本发明公开的一种Micro LED智能压接点亮检测装置及其检测方法，包括：控制系统与载台以及设置在载台两侧的第一检测组件与第二检测组件，载台顶部设置有转接电路板，显示屏上设置有若干个Micro LED，转接电路板两侧均设置有若干个压接点，电接点与压接点接触过程中能够检测对应的Micro LED是否点亮，电接点连接若干个压接点进行点亮测试，第一探针模组与第二探针模组能够错位移动，第一探针模组与第二探针模组能够单独检测或同时检测，实现Micro LED的灵活抽样检测。
基本信息
专利标题 ：
一种Micro LED智能压接点亮检测装置及其检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563650A
申请号 ：
CN202210442205.X
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-04-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘曜轩马纪飞夏坤
申请人 ：
苏州威达智电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试验区苏州片区百合街18号D幢
代理机构 ：
苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陆金星
优先权 ：
CN202210442205.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04 G09G3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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