一种超构表面成像系统、设计方法和探测器
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种超构表面成像系统、设计方法和探测器,其中,成像系统包括两个功能部分,基于二次相位的超构表面结构和波矢调控结构;超构表面结构可实现±89°视场成像,波矢调控结构,针对设计波长,存在临界角θt,当波矢调控结构的入射角大于临界角θt时,入射波将无法透过波矢调控结构;基于二次相位的超构表面结构可以实现超大视场成像,对入射角度敏感的波矢调控结构则可以在保持系统超薄的同时,极大地提高系统的成像质量。本发明设计的成像系统,具有超轻超薄、成像质量高等优点,可以实现大面积超薄大视场成像探测。
基本信息
专利标题 :
一种超构表面成像系统、设计方法和探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114488525A
申请号 :
CN202210392652.9
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-04-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
罗先刚张飞蒲明博谢婷马晓亮
申请人 :
中国科学院光电技术研究所
申请人地址 :
四川省成都市双流350信箱
代理机构 :
北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人 :
李晓莉
优先权 :
CN202210392652.9
主分类号 :
G02B27/00
IPC分类号 :
G02B27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B27/00
不能分入G02B 1/00-G02B 26/00,G02B 30/00的其它光学系统或其它光学仪器
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 27/00
申请日 : 20220415
申请日 : 20220415
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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