一种检测与调整衍架导轨平行度的方法
公开
摘要
本发明公开了一种检测与调整衍架导轨平行度的方法，提高了这种分节桁架导轨在空间位置上平行度的检测精度。本发明借助激光跟踪仪首先调整了中间那根分节桁架导轨的直线度，然后以它的一端作为坐标原点建立空间坐标系，进而根据空间坐标调整左右两根分节桁架导轨各自的直线度和与中间那根的平行度，最后再重新复测三根分节桁架导轨的平行度。本发明借助激光跟踪仪的高精度，进而提高分节桁架导轨在空间位置上平行度的检测精度，而且操作简单，大大节约了时间成本。
基本信息
专利标题 ：
一种检测与调整衍架导轨平行度的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114608486A
申请号 ：
CN202210295309.2
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
罗倩邵俊铭高国涵吴时彬杜俊峰边疆刘盾杨虎
申请人 ：
中国科学院光电技术研究所
申请人地址 ：
四川省成都市双流350信箱
代理机构 ：
北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人 ：
江亚平
优先权 ：
CN202210295309.2
主分类号 ：
G01B11/27
IPC分类号 ：
G01B11/27
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/27
••用于检测轴线准直
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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