一种PCB板缺陷检测方法、系统、介质、设备及终端
公开
摘要
本发明属于PCB板缺陷检测技术领域，公开了一种PCB板缺陷检测方法、系统、介质、设备及终端，该方法首先采用Bisecting K‑means算法对PCB缺陷数据集进行聚类分析，得到聚类中心，将聚类中心值输入至YOLOv4网络；在YOLOV4各检测头增加稀疏网络结构InceptionV3网络，通过使用多种尺度卷积核实现对目标的检测，采用轻量化特征提取网络作为YOLOv4特征提取网络；将改进思路在YOLOv4代码中进行修改，设置参数进行训练；利用权重文件对PCB测试数据集进行缺陷检测。本发明检测实时性高，柔性更强，可以更好应对目标尺寸变化。
基本信息
专利标题 ：
一种PCB板缺陷检测方法、系统、介质、设备及终端
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114596302A
申请号 ：
CN202210270622.0
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
伍济钢任强成远梁谋王刚曹鸿杨康
申请人 ：
湖南科技大学
申请人地址 ：
湖南省湘潭市雨湖区石码头2号
代理机构 ：
北京金智普华知识产权代理有限公司
代理人 ：
张晓博
优先权 ：
CN202210270622.0
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06V10/762 G06V10/82 G06K9/62 G06N3/04 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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