本申请涉及一种缺陷识别方法、装置、电子装置及可读存储介质，所述方法包括步骤：获取训练样本库，基于所述训练样本库确定小样本缺陷类型；生成与所述小样本缺陷类型对应的伪样本数据，并将所述伪样本数据添加到所述训练样本库中以对所述训练样本库进行更新，以使所述小样本缺陷类型的样本数量满足预设样本要求；基于更新后的所述训练样本库对初始缺陷识别模型进行训练得到训练完成的缺陷识别模型；通过所述训练完成的缺陷识别模型进行缺陷识别操作。通过确定样本数量较少的小样本缺陷类型，并生成对应的伪样本数据来增加小样本缺陷类型的样本数量，保证各缺陷类型的样本充足，进而基于充足的样本训练缺陷识别模型，提高缺陷识别模型的识别效果。