一种利用荧光探针原位监测聚合物成膜过程的方法
公开
摘要
本发明涉及高分子材料领域，具体涉及一种新的应用聚集诱导发光荧光探针检测聚合物成膜过程的方法。本发明体提供一种利用荧光探针原位监测聚合物成膜过程的方法，所述监测方法包括如下步骤：1)将聚合物溶液和聚集诱导发光物质共混均匀得聚合物/聚集诱导发光物质混合液；2)采用激光共聚焦显微镜实时监测步骤1)所得均匀的混合液即可实现原位监测聚合物成膜过程。本发明提高一种新的应用聚集诱导发光荧光探针检测聚合物成膜过程的方法，将聚集诱导发光物质如TTVP或TVP做为荧光探针，与聚合物制成分散均匀的混合液，用通过激光诱导荧光技术灵敏、便捷、直观地监测聚合物的成膜过程。
基本信息
专利标题 ：
一种利用荧光探针原位监测聚合物成膜过程的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609102A
申请号 ：
CN202210232843.9
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
傅强姚艺航王柯付真珍张琴
申请人 ：
四川大学
申请人地址 ：
四川省成都市一环路南一段24号
代理机构 ：
成都点睛专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘文娟
优先权 ：
CN202210232843.9
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G01N5/00 G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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