一种显示屏mura缺陷的检测方法及相关装置
授权
摘要
本申请公开了一种显示屏mura缺陷的检测方法及相关装置，用于提高mura缺陷视觉检测系统的检出准确性，同时降低过检率和漏检率。本申请方法包括：获取目标显示屏的拍摄图像，对拍摄图像进行形状尺寸规定化处理，生成显示屏处理图像；对显示屏处理图像进行显示区域处理，生成显示区域图像；对显示区域图像进行图像边界和孔卡的修复，生成显示屏待检测图像；根据显示屏待检测图像的像素值RGB转换为XYZ色空间的XYZ三刺激值，生成XYZ三刺激图像；根据目标显示屏的逻辑分辨率和XYZ三刺激图像生成亮度对比可视度图集合；根据亮度对比可视度图集合对显示区域图像进行mura缺陷分割，生成mura缺陷的检测结果。
基本信息
专利标题 ：
一种显示屏mura缺陷的检测方法及相关装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114299070A
申请号 ：
CN202210221300.7
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2022-03-09
授权号 ：
CN114299070B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
张耀曹保桂崔乔乔张滨徐大鹏
申请人 ：
深圳精智达技术股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东
代理机构 ：
深圳腾文知识产权代理有限公司
代理人 ：
冼柏龙
优先权 ：
CN202210221300.7
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T5/00 G06T7/11 G06T7/136 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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