一种基于局部质心的几何特征检测线的提取方法
公开
摘要
本发明公开了一种基于局部质心的几何特征检测线的提取方法，包括几何特征点的提取、点云模型特征线的构造和点云模型特征线的结构化三个部分。本发明利用加权局部质心的一次计算可以将凸特征线、凹特征线以及边界线计算出几何特征检测线，在此基础上开发基于点云特征线结构的识别系统，预计可以实现判断目标模型在场景级点云中是否存在，以此为模型的软件系统具有时空复杂度、精度和鲁棒性高、移植性和扩展性强等特点。
基本信息
专利标题 ：
一种基于局部质心的几何特征检测线的提取方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114581629A
申请号 ：
CN202210219908.6
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴雪峰
申请人 ：
西北农林科技大学
申请人地址 ：
陕西省杨凌示范区邰城路3号
代理机构 ：
安徽思沃达知识产权代理有限公司
代理人 ：
朱海东
优先权 ：
CN202210219908.6
主分类号 ：
G06T17/20
IPC分类号 ：
G06T17/20 G06T7/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T17/00
用于计算机制图的3D建模
G06T17/20
线框描述，例如：多边法或镶嵌
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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