本发明提供一种单源双射线成像检测方法及装置，方法包括：根据被检测物体的中子成像检测数据和X射线成像检测数据，确定被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量；根据被检测物体对于中子和X射线的透射衰减量，计算被检测物体的材料属性参数；统计材料属性参数的分布，拟合出材料属性参数的高斯分布曲线；根据预设的判别阈值，对高斯分布曲线中超出预设分布范围的材料属性参数进行标记；根据标记出的材料属性参数确定被检测物体中目标对象的位置。在拟合出的材料属性参数高斯分布曲线中，对超出分布范围的属性参数进行标记，根据标记出的属性参数确定目标对象的位置，能够对被检测物体中目标对象的位置进行准确定位，提高了检测的精确度。