基于全相位快速傅里叶变换的光载波微波干涉相位提取方法
公开
摘要
基于光载波的微波干涉测量(Optical carrier‑based microwave interferometry，OCMI)已被公认为各种传感应用的重要工具；在这项研究中，距离测量是通过一种新的、经济有效的OCMI相位提取方法实现的；该方法基于全相位快速傅里叶变换(all‑phase fast Fourier transform，apFFT)，能够有效抑制频谱泄漏，准确提取相位信息，从而获得更好的距离估计性能；此外，为了解决相位模糊问题，设计并实现了使用多个调制频率的相位解包裹程序，避免了测量范围和分辨率之间的不合适权衡；从理论分析验证了该方法的优越性；本发明为OCMI研究人员提供新的见解，并为OCMI传感的未来发展做出贡献。
基本信息
专利标题 ：
基于全相位快速傅里叶变换的光载波微波干涉相位提取方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563375A
申请号 ：
CN202210172519.2
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
叶雯张雪松
申请人 ：
广州番禺职业技术学院
申请人地址 ：
广东省广州市番禺区沙湾镇市良路1342号
代理机构 ：
广州天河万研知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘茂龙
优先权 ：
CN202210172519.2
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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