一种GPGPU芯片无损Extest Mode测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种GPGPU芯片无损Extest Mode测试方法，基于GPGPU芯片的设计特点，根据顶层芯片的逻辑连接关系，把GPGPU芯片的设计分为计算逻辑模块和余下的SOC模块，从而分成两个Extest Mode分组：一组包含计算逻辑模块以及与之相连的SOC模块，另外一组包含所有的SOC模块。在此基础上，每组均控制所有的扫描链输入信号，根据GPGPU芯片提供的所有输入输出管脚数量，再次分组直到观测完所有的扫描链输出信号，对运算内存的需求大大降低，同时没有损失任何测试覆盖率。
基本信息
专利标题 ：
一种GPGPU芯片无损Extest Mode测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114527374A
申请号 ：
CN202210165985.8
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2022-02-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
牛沿笼
申请人 ：
上海天数智芯半导体有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区陈行公路2388号3幢101-5室
代理机构 ：
南京钟山专利代理有限公司
代理人 ：
王磊
优先权 ：
CN202210165985.8
主分类号 ：
G01R31/3185
IPC分类号 ：
G01R31/3185
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/08
探测电缆、传输线或网络中的故障
G01R31/14
所用的电路
G01R31/315
使用电感法
G01R31/3185
测试的重新配置，例如LSSD，划分
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/3185
申请日 : 20220223
申请日 : 20220223
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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