一种总线回环测试结构和方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种总线回环测试结构和方法，包括寄存器配置模块、时间产生模块、时钟同步模块、数据发送模块、数据接收模块、回环时间产生模块、回环数据发送模块；时间产生模块和回环时间产生模块各自产生独立的周期和时隙信息；在回环使能时，将回环数据发送模块的输出TX_LP与数据发送模块的输出TX进行与操作，并与RX进行连接。可以完成时间触发类总线的回环测试，提高了总线的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种总线回环测试结构和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114545201A
申请号 ：
CN202210143515.1
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张斌杨靓李磊李川娄冕黄巾许辉勇崔媛媛徐晚成
申请人 ：
西安微电子技术研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市雁塔区太白南路198号
代理机构 ：
西安通大专利代理有限责任公司
代理人 ：
王艾华
优先权 ：
CN202210143515.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220216
申请日 : 20220216
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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