一种太阳反射全波段高光谱成像探测系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种太阳反射全波段高光谱成像探测系统,包括望远镜集光系统、视场分离组件、光谱仪组件和探测器组件,所述视场分离组件包括一体化三分视场分离器、第一视场组件、第二视场组件和第三视场组件,所述光谱仪组件包括第一光谱仪、第二光谱仪和第三光谱仪;所述探测器组件包括CMOS探测器、InGaAs探测器和HgCdTe探测器。本发明采用三波段光谱仪,解决了传统太阳反射全波段高光谱探测系统两波段光谱仪长期存在的光谱混叠、光电效率中间高两端低、探测动态范围受限和Etalon干涉效应严重等问题,从而使高光谱探测系统的范围、效率和精度实现了最优化,根源上消除了上述难题,在提升整体探测效能的同时,从系统上简化了光电组部件的复杂性和难度。
基本信息
专利标题 :
一种太阳反射全波段高光谱成像探测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509164A
申请号 :
CN202210123382.1
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-02-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘银年张宗存秦荣杰孙德新赵云柯有龙
申请人 :
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 :
上海市虹口区玉田路500号
代理机构 :
上海沪慧律师事务所
代理人 :
郭英
优先权 :
CN202210123382.1
主分类号 :
G01J3/02
IPC分类号 :
G01J3/02 G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/02
申请日 : 20220210
申请日 : 20220210
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载