一种平板探测器坏点快速校正方法及装置
公开
摘要
本发明公开了一种平板探测器坏点快速校正方法及装置，涉及平板探测器领域，特别涉及一种平板探测器坏点快速校正方法及装置；本发明通过对相临像素点进行灰度差值计算，并根据确定的灰度差阈值进行筛选，可快速的筛选出坏点，再通过计算出与坏点相临的各个像素点的平均灰度值，对坏点的灰度值进行替换，可快速的完成坏点的校正，提高图像质量。
基本信息
专利标题 ：
一种平板探测器坏点快速校正方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114626999A
申请号 ：
CN202210094256.8
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
冯岩河
申请人 ：
上海昊博影像科技有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区新骏环路760号1号楼701室
代理机构 ：
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
曾令军
优先权 ：
CN202210094256.8
主分类号 ：
G06T5/00
IPC分类号 ：
G06T5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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