一种红外无损检测的缺陷几何特征提取方法
实质审查的生效
摘要
本发明的目的在于提供一种红外无损检测的缺陷几何特征提取方法，属于红外无损检测技术领域。该方法考虑了热扩散对图像分割造成的影响，基于双阈值将待检测的红外图像分割成黑、灰、白三种情况，分别对应无缺陷、热扩散影响和有缺陷三部分，然后再利用形态学边缘检测获取缺陷几何特征，实现在考虑热扩散影响下的缺陷几何特征的准确提取，具有准确率高的优势。
基本信息
专利标题 ：
一种红外无损检测的缺陷几何特征提取方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487014A
申请号 ：
CN202210092133.0
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郑虎李吉涂一航龙嘉威蔡林宏李恩
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
代理机构 ：
电子科技大学专利中心
代理人 ：
吴姗霖
优先权 ：
CN202210092133.0
主分类号 ：
G01N25/72
IPC分类号 ：
G01N25/72 G01N29/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/72
测试缺陷的存在
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 25/72
申请日 : 20220126
申请日 : 20220126
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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