一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括:获取已标注的图像样本,建立数据集,所述图像样本由两个图像块组成且所述图像样本的标注为同类或不同类,所述图像块具有基于多个颜色空间确定的特征向量;构建基于打分网络的缺陷检测模型结构;根据所述数据集,对所述缺陷检测模型结构进行训练,得到缺陷检测模型;获取待检测的木板照片,所述木板照片基于所述多个颜色空间确定每个像素点的特征向量;根据所述缺陷检测模型,获取所述木板照片每个像素点的量化分数;根据每个像素点的所述量化分数,识别木板的缺陷。这样,只需要提供一种颜色缺陷对应的图像样本,即可对该缺陷进行检测,大大精简了工作量。
基本信息
专利标题 :
一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114549418A
申请号 :
CN202210073199.5
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-01-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王福伟王建凯刘秋荣陈曦麻志毅
申请人 :
杭州未名信科科技有限公司;浙江省北大信息技术高等研究院
申请人地址 :
浙江省杭州市萧山区宁围街道钱江世纪公园C区1幢101室
代理机构 :
北京辰权知识产权代理有限公司
代理人 :
鞠永帅
优先权 :
CN202210073199.5
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00 G06T7/90 G06V10/762 G06V10/774 G06V10/764 G06V10/82 G06K9/62 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220121
申请日 : 20220121
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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