一种硅片背检设备和背检方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种硅片背检设备和背检方法,该设备中螺旋导轨座上设置有自中心向边缘螺旋排布的第一凹槽,连杆的一端通过旋转轴连接在螺旋导轨座的中心,连杆的另一端绕螺旋导轨座的中心做圆周运动,滑块套设于在连杆上,滑块邻近第一凹槽的一侧设置有第一滚轮,远离第一凹槽的一侧布置有视觉检测装置,所述第一滚轮至少部分设置于所述第一凹槽内;驱动装置,驱动装置与旋转轴连接,用于驱动连杆旋转,以带动第一滚轮沿第一凹槽移动,同时带动滑块在连杆上滑动,使得视觉检测装置的移动轨迹为螺旋轨迹;承载台,用于承载待测硅片,待测硅片背向视觉检测装置的视场方向,从而,在简化螺旋扫描设备结构的基础上同时还可以保证检测精度。

基本信息
专利标题 :
一种硅片背检设备和背检方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114527142A
申请号 :
CN202210071123.9
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-01-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孙良峰沈锦华
申请人 :
合肥御微半导体技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区华佗巷469号品恩科技园1号楼
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
郭德霞
优先权 :
CN202210071123.9
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/95
申请日 : 20220121
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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