一种面向冷冻电子断层图像的特征提取方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种面向冷冻电子断层图像的特征提取方法，包括：S1获取冷冻电子断层的投影图像以及对应的图像序列；S2预设仿射变换模拟的角度序列；S3根据设定的角度序列，对每一个冷冻电子断层的投影图像进行仿射变换模拟，通过筛选后获得对应的模拟图像集；S4根据S3获得的模拟图像集与对应的角度序列，提取获得匹配特征点。通过该方法通过模拟图集与对应的角度序列，解决了人为倾转时对样品空间位置的干扰，提高了特征点的提取质量，从而获得高质量的冷冻电子三维重构模型。
基本信息
专利标题 ：
一种面向冷冻电子断层图像的特征提取方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114359581A
申请号 ：
CN202210001274.7
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2022-01-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
冯结青郭珂诚
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 ：
杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人 ：
胡红娟
优先权 ：
CN202210001274.7
主分类号 ：
G06V10/46
IPC分类号 ：
G06V10/46 G06V10/75 G06K9/62
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06V 10/46
申请日 : 20220104
申请日 : 20220104
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
