一种用于WiFi芯片屏蔽测试的卡槽结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于WiFi芯片屏蔽测试的卡槽结构，涉及到芯片屏蔽测试领域，包括卡接块，所述卡接块的上表面开设有卡接槽，所述卡接槽内壁一侧的上方开设有安装口，所述安装口的内壁固定连接有条形出气头，所述条形出气头的内壁开设有空腔，所述空腔内壁的上方和下方均固定连接有导流板，所述条形出气头的一侧开设有出气口。本实用新型能够在将芯片进行屏蔽测试的时候对卡槽内部的上侧进行气流阻挡，防止外界的灰尘和杂质进入到卡槽内部，并且能够对放入的芯片表面进行灰尘处理，保证了芯片在进行屏蔽测试的时候不会受到灰尘和杂质的影响，确保了测试结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种用于WiFi芯片屏蔽测试的卡槽结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123453721.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
CN216747985U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
王联红
申请人 ：
锐思特电子科技（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城中北区23幢214室
代理机构 ：
苏州国卓知识产权代理有限公司
代理人 ：
夏祖祥
优先权 ：
CN202123453721.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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