本实用新型提供一种电流冷热循环冲击测试装置，涉及半导体制冷片检测领域，包括检测台，所述检测台的顶部固定连接有固定台，所述固定台顶部的两侧均固定连接有边板，一侧所述边板的内部螺纹连接有夹块调节轴，所述夹块调节轴的一端活动连接有转把，所述夹块调节轴的另一端固定连接有连接块，所述连接块的一侧固定连接有调节夹块，另一侧所述边板的一侧固定连接有固定夹块，所述固定夹块和调节夹块的内部均开设有夹槽，所述夹槽的内部开设有端孔，所述固定夹块的一侧卡接有制冷片，本电流冷热循环冲击测试装置主要对制冷片的冷热温度以及外表是否受损来进行检测，测得的温度数据可以直观明了的观察到。