一种半导体检测装置
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摘要
本实用新型公开了一种半导体检测装置，包括检测基座，所述检测基座的顶部一侧固定设有集成电路检测台，所述集成电路检测台的顶部一侧开有方形的集成电路固定槽，所述集成电路固定槽的四侧内壁开有等距离分布的针脚定位槽，所述针脚定位槽的底部内壁固定设有倾斜向上的弹性触片，所述检测基座的顶部两侧开有两个滑槽。本实用新型通过导向斜板能够下压集成电路板，通过推拉块滑动挤压板，将挤压板移动到集成电路检测台的顶部，通过导向斜板能够下压集成电路板，使集成电路板的针脚和弹性触片接触，便于固定集成电路板，万用表通过无触点开关通过导线和弹性触片连通，能够快速测量集成电路板的电路是否正常。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123038949.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
CN216595383U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
刘理金
申请人 ：
深圳市昂捷电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区华强北街道华航社区华富路1006号航都大厦24层A房
代理机构 ：
深圳市康弘知识产权代理有限公司
代理人 ：
林雪
优先权 ：
CN202123038949.5
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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