一种冲击环境下位移响应测量装置
授权
摘要
本实用新型一种冲击环境下位移响应测量装置，该装置的底座两端通过X向旋转轴轴承连接有X向旋转架，X向旋转轴卡接有X向角度传感器，X向角度传感器固定用于底座上，X向旋转架轴承连接Z向旋转轴，Z向旋转轴一端部卡接有Z向角度传感器，Z向角度传感器固定于X向旋转架上，Z向旋转轴上连接有Z向旋转块，Z向旋转块上连接有伸缩位移传感器，伸缩位移传感器端部连接有连接头。本实用新型解决现有的测量方法不便于安装，测量误差大等问题。
基本信息
专利标题 ：
一种冲击环境下位移响应测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122876040.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-23
授权号 ：
CN216410592U
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
韩赫金映丽闫明孙自强刘海超吴子坤王禹奇孙赫徐伟巴忠诚
申请人 ：
沈阳工业大学
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市铁西区经济技术开发区沈辽西路111号
代理机构 ：
沈阳智龙专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
王聪耀
优先权 ：
CN202122876040.0
主分类号 ：
G01M7/08
IPC分类号 ：
G01M7/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M7/08
•冲击测试
法律状态
2022-04-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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