用于Mesh组件的双面检测机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于Mesh组件的双面检测机构，包括两个检测单元，两个所述检测单元分别作用于所述Mesh组件的相对两个待检测面；每个所述检测单元均包括面阵相机、远心镜头及低角度环形光源件；两个所述面阵相机能够分别对Mesh组件的两个待检测面进行图像信息获取；所述低角度环形光源件能够对所述Mesh组件发射环形光线；其中，还包括至少一个所述背光源件，所述背光源件与其对应设置的所述低角度环形光源件分别位于所述Mesh组件的相对两侧，所述背光源件能够对所述Mesh组件发射背光线。本实用新型至少包括以下优点：通过双工位设置，利用互不干扰的光源组件配合图像获取组件，能够快速获取清晰、高对比度的Mesh组件特征。
基本信息
专利标题 ：
用于Mesh组件的双面检测机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122422325.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-29
授权号 ：
CN216208647U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
顾勇强张深逢蔡大帅常浩捷
申请人 ：
逸美德科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区双溇里路15号
代理机构 ：
苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周子轶
优先权 ：
CN202122422325.7
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/95 G03B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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