本实用新型公开了一种表面清洁度测试装置，属于半导体及晶圆、OLED等高精密加工领域的技术领域。它包括背景光源、同向光源、支架、同轴环形光源、棱镜、棱镜固定支架、液滴、被测试样品和成像系统，棱镜通过顶丝固定螺丝固定到棱镜固定支架上。通过顶视、侧视多视角的同一图像中成像，实现了UV分析、红外分析、表面结构分析、3D接触角分析的有效组合测量，对于评估固体材料的物理化学性质，特别是对于客观存在的表面粗糙度、化学多样性和表面结构导致的表面清洁度误判的解决，提高表面清洁度测试的精度和可靠性，均具有极大提升，在半导体、晶圆、硅片、新材料研究、仿生材料等行业具有非常高的作用，具有极高的推广价值。