本实用新型涉及薄膜测厚技术领域，公开了一种用于薄膜厚度均匀性的检测系统，其包括底板，底板上设有收卷机构，底板上设有检测机构，底板上设有挤压机构；收卷机构包括用于对薄膜进行收卷的收卷辊；检测机构包括安装板，两安装板之间设有转辊；两安装板上端部间连接有连接板，连接板的下侧面设有彩色激光同轴位移计；挤压机构包括安装座，两安装座之间设有压辊，两安装座之间且位于压辊下方处设有加热辊，压辊的外侧壁能够抵靠在加热辊的外侧壁上且用于与加热辊相配合对薄膜进行挤压；通过上述构造，其能够实现当薄膜厚度不均匀时，对其进行加热后进行挤压，从而使薄膜厚度均匀性达到符合生产标准。